光學(xué)膜厚儀利用反射干涉的原理進(jìn)行無損測量，可測量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)。測量精度達(dá)到埃級的分辯率，測量迅速，操作簡單，界面友好，是具性價比的膜厚測量儀設(shè)備。設(shè)備光譜測量范圍從近紅外到紫外線，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測量。
光學(xué)膜厚儀的功能：
●采用了磁性測厚方法，可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；
●可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；
●可采用基本校準(zhǔn)修正法對測頭系統(tǒng)誤差進(jìn)行更新修正，保證儀器在測量過程中的準(zhǔn)確性；
●負(fù)數(shù)顯示功能，保證儀器零位點(diǎn)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，提高測試精度；
●操作過程有蜂鳴聲提示；
●兩種關(guān)機(jī)方式：手動關(guān)機(jī)方式和自動關(guān)機(jī)方式；
●電池電壓指示：低電壓提示；
●微功耗設(shè)計，在待機(jī)裝態(tài)不到10微安的電流。
光學(xué)膜厚儀的特點(diǎn)：
A、精美整體式設(shè)計，攜帶方便；
B、金屬測頭，牢固，耐磨，更穩(wěn)定；
C、人體工程學(xué)設(shè)計，操作舒適，可精準(zhǔn)地放置于光滑、平坦的表面之上；
D、測試速度快，讀數(shù)準(zhǔn)確；
E、具有連續(xù)測試和單次測量兩種測量方式；連續(xù)測試減少人為誤差，讓測量值更精準(zhǔn)；
F、儀器可存貯116個測量數(shù)據(jù)；
G、四個統(tǒng)計功能：大小值、平均值、測量次數(shù)，按下TA鍵即可查閱；
H、可以連接電腦進(jìn)行通信讀出存貯數(shù)據(jù)進(jìn)行保存或打??；
I、兩種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)；
J、操作過程有蜂鳴聲提示（單次測量方式）；
K、自動識別鐵基和非鐵基底材；
L、低電壓指示；
M、手動/自動關(guān)機(jī)功能；
N、高耐沖擊ABS塑料外殼制成，非常適用于油漆有粉末涂層環(huán)境。
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